වෙළඳ නාමය: NANBEI
ආකෘතිය: AFM
Atomic Force Microscope (AFM), පරිවාරක ඇතුළු ඝන ද්රව්යවල මතුපිට ව්යුහය අධ්යයනය කිරීමට භාවිත කළ හැකි විශ්ලේෂණාත්මක උපකරණයකි.එය පරීක්ෂා කිරීමට නියමිත නියැදියේ මතුපිට සහ ක්ෂුද්ර බල සංවේදී මූලද්රව්යයක් අතර අතිශය දුර්වල අන්තර් පරමාණුක අන්තර්ක්රියා හඳුනා ගැනීමෙන් ද්රව්යයේ මතුපිට ව්යුහය සහ ගුණාංග අධ්යයනය කරයි.